材料技术与表征测试题库及答案.docxVIP

材料技术与表征测试题库及答案

一、选择题（每题2分，共20分）

1.以下哪种材料不属于先进陶瓷范畴？

A.氧化铝陶瓷

B.碳化硅陶瓷

C.普通日用瓷

D.氧化锆增韧陶瓷

2.扫描电子显微镜（SEM）的成像主要基于哪种信号？

A.二次电子

B.背散射电子

C.特征X射线

D.透射电子

3.布拉格方程2dsinθ=nλ中，θ代表的是？

A.入射X射线与晶面的夹角

B.入射X射线与样品表面的夹角

C.衍射X射线与晶面的夹角

D.入射X射线与衍射X射线的夹角

4.差示扫描量热法（DSC）主要用于测量材料的哪种性质？

A.热重变化

B.相变焓变

C.热膨胀系数

D.导热系数

5.透射电子显微镜（TEM）的分辨率主要受限于？

A.电子枪加速电压

B.物镜球差

C.样品厚度

D.探测器灵敏度

6.红外光谱（FTIR）中，官能团的特征吸收峰主要由哪种振动模式引起？

A.原子核自旋

B.分子振动-转动能级跃迁

C.电子能级跃迁

D.晶格振动

7.以下哪种方法可用于测定材料的结晶度？

A.X射线衍射（XRD）

B.扫描电子显微镜（SEM）

C.原子力显微镜（AFM）

D.拉曼光谱（Raman）

8.热重分析（TGA）中，样品质量随温度升高下降的主要原因可能是？

A.结晶相变

B.分解或挥发

C.氧化增重

D.晶格畸变

9.材料的“体相成分”与“表面成分”存在差异时，优先选择哪种表征手段？

A.X射线光电子能谱（XPS）

B.电感耦合等离子体光谱（ICP）

C.能量色散X射线谱（EDS）

D.电子探针微区分析（EPMA）

10.对于纳米颗粒的粒径分布统计，最常用的表征方法是？

A.动态光散射（DLS）

B.X射线小角散射（SAXS）

C.透射电子显微镜（TEM）

D.激光衍射法

二、简答题（每题6分，共30分）

1.简述X射线衍射（XRD）物相分析的基本原理及主要步骤。

2.比较扫描电子显微镜（SEM）与透射电子显微镜（TEM）在成像原理、样品要求及应用场景上的差异。

3.说明红外光谱（FTIR）中“指纹区”的定义及其在材料分析中的作用。

4.热重-差示扫描量热联用（TG-DSC）技术中，如何通过TG曲线和DSC曲线的协同分析判断材料的热分解过程？

5.解释“选区电子衍射（SAED）”在TEM分析中的作用，并说明其与XRD衍射谱的主要区别。

三、分析题（每题10分，共30分）

1.某课题组制备了一种新型锂离子电池正极材料LiNi?.?Co?.?Mn?.?O?，实验中获得以下表征数据：

-XRD图谱显示在2θ=18.7°、36.7°、44.6°处出现强衍射峰，与标准卡片JCPDS01-075-0162（α-NaFeO?型层状结构）匹配；

-SEM图像显示颗粒呈类球形，平均粒径约1μm，表面无明显团聚；

-XPS谱中Ni2p峰位于854.3eV（对应Ni2?）和855.8eV（对应Ni3?），峰面积比约为1:2；

-充放电测试显示首次放电比容量为185mAh/g（0.1C），库仑效率89%。

请结合以上数据，分析该材料的结构、形貌、元素价态及电化学性能之间的关联。

2.某聚合物材料在FTIR测试中，3300cm?1处出现宽而强的吸收峰，1720cm?1处出现尖锐吸收峰，1240cm?1处出现中等强度吸收峰。已知该聚合物为聚酯类材料，试推断其可能的官能团组成，并解释各吸收峰的归属。

3.某金属合金样品经TEM观察，发现其内部存在大量位错环，选区电子衍射（SAED）图谱显示除基体衍射斑外，还存在弱而弥散的二次衍射斑。结合材料科学理论，分析位错环的形成原因及二次衍射斑可能对应的微观结构特征。

四、计算题（每题10分，共20分）

1.利用CuKα辐射（λ=0.154nm）对某立方晶系材料进行XRD测试，测得其(111)晶面衍射峰的衍射角2θ=43.2°，计算该材料的晶格常数a（精确到0.001nm）。

2.某纳米颗粒的TEM照片经图像处理后，统计得到200个颗粒的粒径数据如下：

-50-100nm：30个

-100-150nm：80个

-150-200nm：70个

-200-250nm：20个

计算该颗粒体系的数均粒径（D?）和体积平均粒径（D?）（假设颗粒为球形，体积与粒径的三次方成正比）。

答案与解析