基于单片机的镀层厚度测量系统设计.doc

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基于单片机的镀层厚度测量系统设计

摘要:镀层厚控系统要求具有较高的响应速度、很高的厚度控制精度、很高的工作可靠性、很完善的系统保护能力及故障诊断能力,本系统利用单片机(C8051)检测单架镀层在轧制时的工作状态、带材厚度、轧制速度。

开机以后,同时当检测到穿带信号和速度上升信号后,利用C8051单片机中的计数器开始记时一段时间,然后系统记下厚度传感器测头的信号,厚度信号通过单片机C8051的模拟量通道采集进来,进行存储和实时的显示,在检测到厚度后要进行放大处理,需要设计硬件放大电路,然后进行采集。为了使镀层有较高的工作可靠性,要求所设计的系统具有很完善的系统保护能力以及关

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