《GB_T 26067-2010硅片切口尺寸测试方法》专题研究报告.pptx

;目录;;硅片切口尺寸对半导体制造的核心影响的专家视角解读;;（三）未来半导体产业发展中标准的应用价值趋势预测;;标准制定前国内硅片切口测试的行业痛点分析;;（三）标准制定的核心参与方与技术调研过程专家视角剖析;;GB/T26067-2010的核心适用范围与场景划分;（二）标准中核心术语的权威界定与易混淆点辨析;;;标准采用的核心测试原理与技术支撑专家解读;;随着半导体技术发展，未来测试原理将向激光测量与AI图像分析结合方向升级。激光测量可提升尺寸测量的精度与速度，AI图像分析可实现切口缺陷与尺寸的同步检测，进一步拓展标准的测试功能，适配先进