基于小波变换的磁粉缺陷图像特征提取与检测.pdfVIP

第38卷第12期白动化仪表Vol.38No.12

2017年12月PROCESSAUTOMATIONINSTRUMENTATIONDec.2017

基于小波变换的磁粉缺陷图像特征提取与检测

游斌相，刘桂华，王姮

(西南科技大学信息工程学院，四川绵阳621010)

摘要：荧光磁粉检测技术是一种常见的无损探伤技术，常用于成品、半成品以及原材料的检验，以确保工件质量的可靠性。小波变

换作为分析信号频率分量的数学工具，已成功地应用于图像处理的各个领域。将图像小波技术与磁粉探伤技术相结合，能快速、有效

地提取出工件的缺陷特征。目前，磁粉缺陷检测通常通过肉眼观察，不仅速度慢，而且效率低。为了在工业生产中实现自动化、提高

检测效率、拓展小波变换的实际应用，提出了一套基于小波变换的自动识别方法，并将其用于检测缺陷。首先，利用小波分析方法提

取缺陷特征。图像经过小波变换后，可获得其低频系数和高频系数。高频系数较好地保存了图像的边缘信息（缺陷信息）。然后，对

高频系数分量进行垂直投影等基础图像处理操作，以获取缺陷特征。最后，使用BP神经网络进行分类识别。测试结果表明，该系统

对工件上的裂纹缺陷和凹坑缺陷具有良好的检测效果。

关键词：小波变换；特征提取；无损探伤；磁粉检测；BP神经网络；垂直投影；连通域；图像分割

中图分类号：TH-39;TP391.4文献标志码：ADOI：10.16086/j.cnki.issnlOOO-0380.201712021

FeatureExtractionandDetectionofMagneticParticleDefectImage

BasedonWaveletTransform

YOUBinxiang，LIUGuihua，WANGHeng

(CollegeofInformationEngineering,SouthwestUniversityofScienceandTechnology,Mianyang621010,China)

Abstract：Fluorescentmagneticparticledetectiontechnologyisacommonnon-destructiveinspectiontechnologyit；hasbeen

oftenusedininspectionoffinishedproducts,semi-finishedproductsandrawmaterials,toensurereliabilityoftheworkpiece

quality.Wavelettransform,asthemathematicaltoolforanalyzingsignalfrequencycomponent,hasbeensuccessfullyappliedin

variousfieldsofimageprocessing.Thecombinationofimagewavelettechnologyandmagneticparticleflawdetectiontechnology

canfastandefficientlyextractthedefectfeaturesofworkpieces.Atpresent,theresultofm