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【2025年】核安全设备无损检验人员资格考试试题附答案

一、单项选择题（每题1分，共20题）

1.以下哪种无损检测方法主要用于检测铁磁性材料表面和近表面缺陷？

A.超声检测

B.磁粉检测

C.射线检测

D.渗透检测

答案：B

答案分析：磁粉检测利用铁磁性材料被磁化后，表面和近表面缺陷产生漏磁场吸附磁粉来显示缺陷，适用于铁磁性材料。超声检测主要检测内部缺陷；射线检测用于检测内部体积型缺陷；渗透检测用于非多孔性金属材料表面开口缺陷。

2.射线检测中，胶片的固有不清晰度与以下哪个因素有关？

A.射线源尺寸

B.透照厚度

C.射线能量

D.焦距

答案：C

答案分析：胶片固有不清晰度主要取决于射线能量，射线能量越高，固有不清晰度越大。射线源尺寸影响几何不清晰度；透照厚度和焦距对几何不清晰度也有影响。

3.超声检测中，纵波在固体中的传播速度与以下哪种因素有关？

A.介质的密度和弹性模量

B.探头频率

C.缺陷的大小

D.耦合剂的种类

答案：A

答案分析：纵波在固体中的传播速度由介质的密度和弹性模量决定，与探头频率、缺陷大小和耦合剂种类无关。

4.磁粉检测时，采用交流电磁化，对于表面下较深的缺陷检测效果（）。

A.较好

B.较差

C.与直流电磁化相同

D.无法确定

答案：B

答案分析：交流电磁化产生的磁场集肤效应明显，对表面下较深缺陷产生的漏磁场较弱，检测效果较差，直流电磁化能检测较深部位的缺陷。

5.渗透检测中，去除多余渗透剂时，采用溶剂去除型方法，若擦拭过度会（）。

A.不影响检测结果

B.使缺陷显示变浅

C.使缺陷显示加深

D.产生伪缺陷

答案：B

答案分析：溶剂去除型渗透检测中，擦拭过度会将渗入缺陷中的渗透剂也部分去除，导致缺陷显示变浅。

6.以下哪种检测方法对检测平面型缺陷最敏感？

A.超声检测

B.射线检测

C.磁粉检测

D.渗透检测

答案：A

答案分析：超声检测对于平面型缺陷（如裂纹）有较高的灵敏度，能清晰地显示缺陷的位置和大小。射线检测对体积型缺陷检测效果好；磁粉和渗透检测主要针对表面和近表面缺陷。

7.射线检测中，当透照厚度增加时，底片黑度（）。

A.增大

B.减小

C.不变

D.先增大后减小

答案：B

答案分析：透照厚度增加，射线被吸收的程度增大，到达底片的射线强度减小，底片黑度减小。

8.超声检测中，探头的频率越高，（）。

A.声速越大

B.波长越长

C.检测深度越大

D.检测灵敏度越高

答案：D

答案分析：探头频率越高，波长越短，声束越窄，检测灵敏度越高，但穿透能力下降，检测深度减小，声速由介质决定与频率无关。

9.磁粉检测中，连续法施加磁粉时，应在（）施加。

A.磁化电流接通前

B.磁化电流接通时

C.磁化电流断开后

D.以上均可

答案：B

答案分析：连续法施加磁粉应在磁化电流接通时进行，这样能保证磁粉在有磁场作用下吸附到缺陷处。

10.渗透检测中，显像剂的作用是（）。

A.去除多余渗透剂

B.增强渗透剂的荧光或着色效果

C.吸附缺陷中的渗透剂，显示缺陷

D.保护被检测表面

答案：C

答案分析：显像剂能吸附缺陷中的渗透剂，使缺陷显示更清晰，便于观察。

11.在射线检测中，为了减少散射线对底片质量的影响，通常采用（）。

A.增感屏

B.滤光板

C.铅屏风

D.以上都是

答案：D

答案分析：增感屏可吸收散射线；滤光板能过滤低能散射线；铅屏风可阻挡周围的散射线，都能减少散射线对底片质量的影响。

12.超声检测中，当超声波从一种介质倾斜入射到另一种介质时，会发生（）。

A.反射和折射

B.衍射

C.干涉

D.散射

答案：A

答案分析：超声波倾斜入射到另一种介质时，会同时发生反射和折射现象，遵循反射和折射定律。

13.磁粉检测中，周向磁化可检测（）。

A.纵向缺陷

B.横向缺陷

C.表面缺陷

D.内部缺陷

答案：A

答案分析：周向磁化产生的磁场方向与工件轴线垂直，能检测与轴线平行的纵向缺陷。

14.渗透检测的基本步骤顺序是（）。

A.清洗渗透去除多余渗透剂显像观察

B.渗透清洗去除多余渗透剂显像观察

C.渗透去除多余渗透剂清洗显像观察

D.清洗渗透显像去除多余渗透剂观察

答案：A

答案分析：先清洗被检测表面，然后进行渗透，接着去除多余渗透剂，再施加显像剂，最后进行观察。

15.射线检测中，管电压升高，射线的（）。

A.强度增大

B.波长增大

C.穿透能力减弱

D.对比度增大

答案：A

答案分析：管电压升高，射线的能量增加，强度增大，波长减小，穿透能力增强，对比度