（集成电路设计与集成系统）芯片测试技术试题及答案.docVIP

2025年（集成电路设计与集成系统）芯片测试技术试题及答案

第I卷（选择题共40分）

答题要求：本卷共20题，每题2分。每题只有一个正确答案，请将正确答案的序号填在括号内。

1.芯片测试技术中，用于检测芯片逻辑功能是否正确的测试方法是（）

A.直流参数测试

B.交流参数测试

C.功能测试

D.可靠性测试

2.以下哪种测试技术可以检测芯片内部的短路故障（）

A.边界扫描测试

B.内建自测试

C.扫描链测试

D.电压对比测试

3.芯片测试中，衡量测试时间与芯片功能复杂度关系的指标是（）

A.测试覆盖率

B.测试成本

C.测试功耗

D.测试效率

4.对于集成电路设计与集成系统专业，芯片测试技术主要关注芯片的（）

A.外观质量

B.电气性能

C.物理尺寸

D.包装形式

5.以下属于芯片测试技术中静态测试的是（）

A.动态功耗测试

B.逻辑功能验证

C.信号完整性测试

D.温度特性测试

6.芯片测试技术中，用于检测芯片引脚与PCB板连接是否良好的测试是（）

A.导通性测试

B.绝缘电阻测试

C.耐压测试

D.接地电阻测试

7.为提高芯片测试的准确性，常采用的测试策略是（）

A.随机测试

B.穷尽测试

C.抽样测试

D.组合测试

8.芯片测试技术中，与芯片制造工艺密切相关的测试是（）

A.功能测试

B.工艺偏差测试

C.老化测试

D.环境适应性测试

9.对于高速芯片，需要重点测试的参数是（）

A.静态电流

B.逻辑门延迟

C.封装散热性能

D.引脚电容

10.芯片测试技术中，用于评估芯片在不同工作条件下性能稳定性的测试是（）

A.温度循环测试

B.功耗测试

C.噪声测试

D.电磁兼容性测试

11.以下哪种测试技术可用于检测芯片的时序错误（）

A.逻辑分析仪测试

B.示波器测试

C.频谱分析仪测试

D.网络分析仪测试

12.芯片测试技术中，用于检测芯片内部晶体管特性的测试是（）

A.晶体管级测试

B.模块级测试

C.系统级测试

D.板级测试

13.为保证芯片测试的可靠性，测试环境应满足（）

A.高温高湿

B.低温低湿

C.稳定且符合标准

D.随意设置

14.芯片测试技术中，用于检测芯片输入输出信号幅度是否符合要求的测试是（）

A.幅度测试

B.频率测试

C.相位测试

D.失真度测试

15.对于低功耗芯片，测试重点关注的是（）

A.功耗降低的幅度

B.逻辑功能的复杂性

C.芯片的面积

D.引脚的数量

16.芯片测试技术中，用于检测芯片在不同电源电压下性能变化的测试是（）

A.电源电压扫描测试

B.温度扫描测试

C.频率扫描测试

D.负载扫描测试

17.以下属于芯片测试技术中动态测试的是（）

A.静态功耗测试

B.逻辑功能验证

C.信号传输延迟测试

D.芯片外观检查

18.芯片测试技术中，用于检测芯片内部信号干扰情况的测试是（）

A.串扰测试

B.共模抑制比测试

C.电源纹波测试

D.地噪声测试

19.为确保芯片测试结果的可重复性，应（）

A.每次测试更换测试设备

B.保持测试条件一致

C.随意改变测试步骤

D.不同测试人员操作

20.芯片测试技术中，用于检测芯片在长时间工作后性能变化的测试是（）

A.老化测试

B.功能测试

C.电气参数测试D.外观检查

第Ⅱ卷（非选择题共60分）

1.简答题（共20分）

-（1）简述芯片测试技术中功能测试的主要内容及重要性。（5分）

_答题区域：功能测试主要检测芯片是否能按照设计要求实现各种逻辑功能。通过功能测试，可以验证芯片的设计正确性，确保芯片在实际应用中能正常工作，是芯片测试的基础环节，对于保证芯片质量至关重要。_

-（2）说明边界扫描测试技术的原理及优点。（5分）

_答题区域：边界扫描测试技术通过在芯片引脚与内部逻辑之间插入边界扫描单元，实现对芯片引脚信号的可控输入和输出监测。优点是可以方便地检测芯片引脚与外部电路的连接故障，提高测试覆盖率，且便于进行板级测试和故障诊断。_

-（3）简述芯片测试技术中功耗测试的方法及意义。（5分）

_答题区域：功耗测试方法包括静态功耗测试和动态功耗测试。静态功耗测试测量芯片在无信号变化时的功耗，动态功耗测试测量芯片在工作时的功耗。意义在于了解芯片的功耗特性，对于低功耗设计的芯片尤为重要，可评估其能源效率和散热需求等。_

-（4）阐述芯片测试技术中温度测试的要点及作用。（5分）

_答题区域：