中子受激辐射计算机断层扫描成像技术关键问题剖析与突破路径探究.docx

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中子受激辐射计算机断层扫描成像技术关键问题剖析与突破路径探究

一、引言

1.1研究背景与意义

计算机断层扫描(ComputedTomography,CT)成像技术作为现代医学影像学检查的重要手段,能够通过对人体进行横断面断层扫描,获取丰富的生物学信息,在疾病诊断、病情评估等方面发挥着关键作用。然而,传统CT成像技术主要依赖X射线,对于高密度物质,如金属、骨等成像时存在明显局限。这些高密度物质会强烈吸收X射线,导致成像过程中产生伪影,严重影响图像质量和诊断的准确性,无法满足临床对某些特殊部位或疾病的精准诊断需求。

为有效解决传统CT成像技术在面对高密度物质时的困境,基于中子

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