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SEMSPM联合测试系统：集成、校准与多元应用的深度解析

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今科学技术飞速发展的时代，对微观世界的深入探索成为众多领域取得突破的关键。扫描电子显微镜（SEM）和扫描探针显微镜（SPM）作为微观观测的重要工具，在材料科学、生物学、纳米技术等众多领域发挥着举足轻重的作用。然而，单一的SEM或SPM技术在面对复杂的微观结构和性质分析时，往往存在一定的局限性。

SEM利用电子束扫描样品表面，通过检测二次电子、背散射电子等信号来获取样品表面形貌和成分信息，具有高分辨率、高放大倍数和大景深的特点，能够观察到材料的微观结构和表面形貌，在材料的失效分析、半导体器