微电子制造工艺仿真:刻蚀工艺仿真_(9).仿真模型建立.docxVIP

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仿真模型建立

在微电子制造工艺仿真中,刻蚀工艺仿真的核心在于建立准确的仿真模型。这一节将详细介绍如何构建刻蚀工艺的仿真模型,包括模型的基本原理、关键参数、建模步骤以及常用的建模工具和方法。

1.模型基本原理

刻蚀工艺仿真模型的建立基于对刻蚀过程的物理和化学机制的深入理解。刻蚀过程可以分为干法刻蚀和湿法刻蚀两大类,每种刻蚀方法的仿真模型都有其特定的原理和假设。

1.1干法刻蚀模型

干法刻蚀,也称为等离子刻蚀,主要利用等离子体中的离子或自由基与材料表面发生化学反应或物理轰击,从而实现材料的去除。干法刻蚀模型通常包括以下几个方面:

等离子体动力学模型:描述等离子体中的离子和自由基的生成、传输和反应过程。

表面反应模型:描述材料表面与等离子体中的活性物种之间的化学反应。

物理轰击模型:描述等离子体中离子对材料表面的物理轰击效应。

1.1.1等离子体动力学模型

等离子体动力学模型主要关注等离子体中的离子、电子和自由基的生成、传输和反应过程。这些过程可以用以下方程来描述:

连续性方程:

?

其中,ni是第i种粒子的密度,Ji是第i种粒子的通量,Si是第

动量方程:

?

其中,vi是第i种粒子的速度,Πi是第i种粒子的压力张量,Fi是作用在第

能量方程:

?

其中,Ei是第i种粒子的能量,Qi是第i种粒子的能量通量,Pi是第

1.1.2表面反应模型

表面反应模型描述了等离子体中的活性物种与材料表面的化学反应过程。常用的表面反应模型包括:

Langmuir-Hinshelwood机理:描述了活性物种在表面吸附、反应和解吸的过程。

Eley-Rideal机理:描述了活性物种在表面直接反应的过程。

1.1.2.1Langmuir-Hinshelwood机理

Langmuir-Hinshelwood机理假设活性物种首先吸附在材料表面,然后发生化学反应,最后产物从表面解吸。其基本方程如下:

吸附方程:

?

其中,θi是第i种活性物种的表面覆盖率,kads,i是吸附常数,kdes,i是解吸常数,

反应方程:

?

其中,θprod是产物的表面覆盖率,kreact

解吸方程:

?

1.1.3物理轰击模型

物理轰击模型描述了等离子体中的离子对材料表面的物理轰击效应。常用的物理轰击模型包括:

溅射模型:描述了离子轰击材料表面时的溅射过程。

溅射产额模型:描述了单位时间内的溅射产额。

1.1.3.1溅射模型

溅射模型假设离子轰击材料表面时,会对表面原子产生动量转移,导致表面原子被溅射出来。其基本方程如下:

溅射产额方程:

Y

其中,Y是溅射产额,Nspl是被溅射出的原子数,Nion

动量转移方程:

v

其中,vf是被溅射出的原子的速度,vi是轰击离子的速度,n是表面法向量,m

1.2湿法刻蚀模型

湿法刻蚀主要利用化学溶液中的反应剂与材料表面发生化学反应,从而实现材料的去除。湿法刻蚀模型通常包括以下几个方面:

扩散模型:描述反应剂在溶液中的扩散过程。

表面反应模型:描述材料表面与反应剂之间的化学反应过程。

1.2.1扩散模型

扩散模型描述了反应剂在溶液中的传输过程。常用的扩散方程是Fick第二定律:

?

其中,C是反应剂的浓度,D是扩散系数。

1.2.2表面反应模型

表面反应模型描述了材料表面与反应剂之间的化学反应过程。常用的表面反应模型包括:

一级反应模型:假设反应速率与反应物浓度成正比。

二级反应模型:假设反应速率与反应物浓度的平方成正比。

1.2.2.1一级反应模型

一级反应模型假设反应速率与反应物浓度成正比。其基本方程如下:

?

其中,Cs是表面反应物的浓度,k

1.3模型建立的关键参数

在建立刻蚀工艺仿真模型时,需要考虑的关键参数包括:

等离子体参数:如离子密度、电子温度、离子能量等。

材料参数:如材料的化学成分、表面性质、晶格结构等。

反应参数:如反应常数、吸附常数、解吸常数等。

工艺参数:如刻蚀气体类型、刻蚀时间、刻蚀温度等。

2.模型建立步骤

建立刻蚀工艺仿真模型的步骤通常包括以下几个阶段:

2.1确定模型类型

根据刻蚀工艺的类型(干法或湿法)选择合适的模型。干法刻蚀通常需要考虑等离子体动力学、表面反应和物理轰击模型,而湿法刻蚀则主要考虑扩散和表面反应模型。

2.2收集物理和化学参数

收集和确定模型中所需的各种物理和化学参数。这些参数可以通过实验数据、文献资料或计算机模拟获得。

2.3建立数学模型

根据确定的模型类型和参数,建立相应的数学模型。这包括编写描述刻蚀过程的微分方程、边界条件和初始条件。

2.4选择建模工具

选择合适的建模工具和软件来实现数学模型。常用的建模工具包括:

COMSOL

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