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半导体光刻胶涂布技师(初级)考试试卷及答案
半导体光刻胶涂布技师(初级)考试试卷及答案
一、填空题(每题1分,共10分)
1.光刻胶按曝光后溶解性分为______和负性光刻胶两类。
2.旋涂转速越高,光刻胶厚度越______。
3.涂布后前烘的主要目的是去除光刻胶中的______。
4.涂布前晶圆需进行______处理,去除表面污染物。
5.曝光后PEB工艺的中文名称是______。
6.光刻胶应存储在______(温度范围)、避光密封的环境中。
7.涂布机匀胶腔需定期清洁,防止______污染晶圆。
8.操作光刻胶需佩戴______手套,避免直接接触。
9.负性光刻胶曝光区域会发生______反应,不溶于显影液。
10.晶圆装载时需对准______保证定位准确。
二、单项选择题(每题2分,共20分)
1.旋涂转速增加,光刻胶厚度()
A.增厚B.变薄C.不变D.不确定
2.前烘温度过高会导致()
A.光刻胶变质B.溶剂残留多C.图形变形D.胶厚增加
3.正性光刻胶曝光区域在显影液中()
A.溶解B.保留C.部分溶解D.不确定
4.涂布前晶圆预处理不包括()
A.去油B.去水C.涂底胶D.高温烘烤
5.PEB的英文全称是()
A.Post-ExposureBakeB.Pre-ExposureBake
C.Post-CoatingBakeD.Pre-CoatingBake
6.光刻胶操作的眼睛防护需佩戴()
A.普通眼镜B.护目镜C.墨镜D.不需要
7.初级涂布均匀性要求一般为()
A.±1%B.±3%C.±5%D.±10%
8.涂布机核心部件是()
A.匀胶腔B.滴胶系统C.转速控制D.前烘模块
9.负性光刻胶分辨率比正性()
A.高B.低C.相同D.不确定
10.晶圆装载需对准()
A.卡槽B.定位槽C.任意位置D.滴胶口
三、多项选择题(每题2分,共20分,多选/少选/错选不得分)
1.晶圆预处理步骤包括()
A.去油清洗B.去离子水冲洗C.干燥D.涂底胶
2.涂布关键参数有()
A.旋涂转速B.滴胶量C.旋涂时间D.前烘温度
3.安全防护措施包括()
A.防静电服B.防毒口罩C.耐化学手套D.防滑鞋
4.影响均匀性的因素有()
A.转速稳定B.滴胶位置C.晶圆平整度D.环境湿度
5.负性光刻胶特点()
A.曝光交联B.不溶于显影液C.分辨率高D.适合精细图形
6.正性光刻胶特点()
A.曝光溶解B.分辨率高C.适合精细图形D.曝光保留
7.涂布后检查项目()
A.胶厚B.均匀性C.无气泡D.无划痕
8.PEB作用()
A.增强曝光反应B.提高图形精度C.减少驻波D.去除溶剂
9.光刻胶存储要求()
A.0-5℃B.避光C.密封D.远离热源
10.涂布机维护内容()
A.清洁匀胶腔B.校准转速C.换过滤芯D.检查滴胶系统
四、判断题(每题2分,共20分,√/×)
1.旋涂转速越快,胶厚越厚。()
2.前烘去除胶中溶剂。()
3.正性胶曝光区域显影溶解。()
4.涂布前晶圆无需预处理。()
5.光刻胶可常温存储。()
6.PEB是曝光后必须步骤。()
7.操作胶无需戴防毒口罩。()
8.初级均匀性要求±5%以内。()
9.负性胶分辨率比正性高。()
10.晶圆装载无需对准定位槽。()
五、简答题(每题5分,共20分,≤200字)
1.简述晶圆预处理的目的及步骤。
2.说明旋涂法涂布的基本原理。
3.简述前烘的作用及注意事项。
4.说明光刻胶操作安全防护的重要性及要求。
六、讨论题(每题5分,共10分,≤200字)
1.分析影响涂布均匀性的常见因素及解决方法。
2.讨论涂布常见缺陷(气泡、划痕)及预防措施。
---
答案部分
一、填空题答案
1.正性光刻胶
2.薄
3.溶剂
4.清洁(预处理)
5.曝光后烘烤
6.0-5℃(低温)
7.颗粒(污染物)
8.耐化学(丁腈)
9.交联
10.定位槽
二、单项选择题答案
1.B2.A3.A4.D5.A
6.B7.C8.A9.B10.B
三、多项选择题答案
1.ABCD2.ABCD3.ABCD4.ABCD5.AB
6.ABC7.ABCD8.ABC9.ABCD10.ABCD
四、判断题答案
1.×2.√3.√4.×5.×
6.√7.×8.√9.×10.×
五、简答题答案
1.目的:去除晶圆油污、颗粒、水分,提高胶附着力,保证均匀性。步骤:①去油清洗(有机溶剂);②去离子水冲洗;③氮气干燥;④涂底胶(增强附着)。
2.晶圆固定在匀胶卡盘,滴胶后高速旋转,胶受离心力均匀铺展;转速决定胶厚(转速越高胶越薄),旋涂时间保证胶层稳定。
3.作用:去除溶剂,防止曝光污染设备、显影溶解胶层。注意:温度90-120℃(依胶种),时间1-5分钟,避免高温变质。
4.重要性:胶含化学物质危害人体,易静电放电
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