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MOSFET可靠性仿真
引言
MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)是现代电子设备中广泛使用的半导体器件。其可靠性对于电子系统的设计和性能至关重要。可靠性仿真可以帮助工程师预测MOSFET在不同工作条件下的寿命和性能退化,从而优化设计并提高系统的可靠性。本节将详细介绍MOSFET可靠性仿真的原理和方法,包括热应力、电应力、辐射效应等多方面的内容。
热应力仿真
热应力的定义
热应力是指由于温度变化导致材料内部产生应力的情况。在MOSFET中,热应力主要由以下几个方面引起:-功耗产生的热量:MOSFET在工作时会有一定的功耗,这些热量会导致器件
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