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MOSFET寄生效应仿真
在上一节中,我们讨论了MOSFET的基本结构和工作原理。在这一节中,我们将深入探讨MOSFET的寄生效应及其在仿真中的表现。MOSFET寄生效应是指MOSFET在实际工作过程中由于制造工艺、材料特性等因素引起的非理想效应,这些效应会对MOSFET的性能产生重要影响。了解和仿真这些寄生效应对于设计高性能的集成电路至关重要。
1.寄生电阻
1.1源漏寄生电阻
MOSFET在实际制造过程中,源漏区域的电阻会受到多种因素的影响,主要包括:
扩散电阻:源漏区域的掺杂浓度和扩散深度不均匀会导致电阻增加。
接触电阻:金属与半导体之间的接触
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