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深度解析(2026)《GBT 4937.18-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量)》.pptxVIP

深度解析(2026)《GBT 4937.18-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量)》.pptx

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    一二三四五六七八九十一全球辐照效应加剧，半导体如何挺进“芯”边疆？专家视角详解总剂量测试的战略基石

    （一）从航天到核能：电离辐射无处不在，为何标准测试是半导体可靠性的第一道防线？

    在航天核能高能物理等领域，半导体器件暴露于电离辐射环境会引发性能退化甚至失效。GB/T4937.18-2018标准建立的总剂量测试方法，正是模拟这种累积损伤效应的核心工具。它通过规范化的辐照源剂量率和测试程序，为评估器件在辐射环境下的耐受能力提供了科学可重复的判据，是确保关键电子系统可靠运行不可或缺的基石性工作。

    （二）揭秘辐照损伤微观物理：专家深度剖析总剂量效应如何“摧毁”晶体管性能

    总剂量效应

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