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《半导体器件的机械标准化第6-17部分:叠层封装设计指南》标准化发展报告
EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReportonMechanicalStandardizationforSemiconductorDevices—Part6-17:GeneralRulesforthePreparationofOutlineDrawingsofSurfaceMountSemiconductorPackages—DesignGuideforPackage-on-Package—Fine-pitchBallGridArrayandFine-pitchLandGridArray
摘要
随着移动通信、高性能计算、人工智能及物联网等技术的飞速发展,电子设备对半导体芯片的集成度、性能、功耗及尺寸提出了前所未有的要求。在此背景下,三维叠层封装(Package-on-Package,PoP)技术,特别是密节距焊球阵列(Fine-pitchFBGA,P-PFBGA)和密节距焊盘阵列(Fine-pitchFLGA,P-PFLGA)封装,凭借其高密度互连、异质集成、小型化及提升系统性能的显著优势,已成为先进封装领域的主流技术路线之一。然而,该技术的快速发展也带来了封装外形、尺寸、互连节距等缺乏统一规范的问题,制约了产业链上下游的协同设计与高效生产。
本报告围绕国家标准《半导体器件的机械标准化第6-17部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则叠层封装设计指南-密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)》的立项与制定工作展开深入分析。报告系统阐述了该标准立项的重大产业意义,明确了其适用范围与核心技术内容。标准旨在通过规定P-PFBGA和P-PFLGA叠层封装的标准外形图、尺寸及绘制规则,实现与国际标准(IEC60191系列)的全面接轨,统一国内设计、制造与应用各环节的技术规范。本标准的制定与实施,将有效降低设计复杂度与生产成本,提升产品兼容性与可靠性,对推动我国先进封装技术的产业化进程、增强国际竞争力、促进全球技术贸易与交流具有至关重要的战略价值。
关键词:
-半导体封装/SemiconductorPackaging
-叠层封装/Package-on-Package(PoP)
-密节距焊球阵列/Fine-pitchBallGridArray(P-PFBGA)
-密节距焊盘阵列/Fine-pitchLandGridArray(P-PFLGA)
-机械标准化/MechanicalStandardization
-外形图/OutlineDrawing
-设计指南/DesignGuide
-国际电工委员会标准/IECStandard
正文
1.引言:技术发展与标准化需求
半导体产业是信息技术产业的基石,而封装技术是连接芯片与外部世界的桥梁,直接影响到芯片的性能、功耗、可靠性和成本。当前,在摩尔定律逼近物理极限的背景下,通过先进封装技术实现系统级性能提升的“超越摩尔”(MorethanMoore)路径已成为行业共识。其中,三维叠层封装技术通过将多个不同功能的芯片(如处理器、存储器)在垂直方向上进行堆叠和互连,实现了在有限空间内功能与性能的指数级增长。
密节距焊球阵列(P-PFBGA)和密节距焊盘阵列(P-PFLGA)是三维叠层封装中两种极具代表性的高密度互连解决方案。它们通过微缩化的焊球/焊盘节距(通常小于0.5mm),实现了更窄的互连通道和更高的I/O密度,满足了移动设备、数据中心等对小型化、高速、高带宽的迫切需求。然而,技术的先进性也伴随着设计的复杂性。若缺乏统一的外形尺寸、引脚定义、堆叠接口规范,将导致不同厂商的封装体无法兼容,增加系统设计难度,抬高测试与组装成本,并可能引发可靠性风险。
因此,制定一项专门针对P-PFBGA和P-PFLGA叠层封装的机械标准化国家标准,不仅是技术发展的必然要求,更是产业健康、有序发展的关键保障。本标准作为GB/T《半导体器件的机械标准化》系列标准的重要组成部分,填补了国内在该细分领域的技术标准空白。
2.标准立项的目的与意义
本标准的立项具有深远的技术、产业和经济意义:
*推动技术规范化与产业化:标准的核心目的是为P-PFBGA和P-PFLGA叠层封装建立统一的外形图绘制规则和尺寸体系。这将使国内封装设计企业、晶圆制造厂、封装测试厂以及终端系统厂商在研发、生产、采购和应用环节有“标”可依,大幅减少因规格不统一导致的沟通成本与设计反复,加速此类先进封装技术从实验室走向大规模产
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