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集成电路时延测试：应用洞察与过度测试难题破解

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代，集成电路作为现代电子设备的核心，广泛应用于各个领域，从智能手机、计算机到汽车电子、航空航天等，其性能的优劣直接决定了电子设备的功能和可靠性。随着科技的飞速发展，集成电路的集成度不断提高，特征尺寸持续缩小，这使得芯片的性能得到了显著提升，但同时也带来了一系列挑战，其中时延测试问题尤为突出。

时延是指信号在集成电路中传输时所经历的时间延迟，它是衡量集成电路性能的重要指标之一。随着集成电路工作频率的不断提高，对时延的精度要求也越来越高。时延过大可能导致信号传输延迟，从而使电路出现时序错误，影响整个系统的