CN119722674B 一种高精度的印刷质量检测方法及系统 (深圳市永润印刷有限公司).docxVIP

CN119722674B 一种高精度的印刷质量检测方法及系统 (深圳市永润印刷有限公司).docx

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(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN119722674B(45)授权公告日2025.07.11

(21)申请号202510226696.8

(22)申请日2025.02.27

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119722674A

(43)申请公布日2025.03.28

(73)专利权人深圳市永润印刷有限公司

地址518000广东省深圳市宝安区沙井新

桥第三工业区第十排第2号2楼

(72)发明人叶存国

(74)专利代理机构深圳科博专利代理事务所(普通合伙)441003

专利代理师吴衍正

(51)Int.CI.

GO6T7/00(2017.01)

GO6V10/764(2022.01)

G06T7/13(2017.01)

G06T5/30(2006.01)

G06T5/70(2024.01)

(56)对比文件

CN118941567A,2024.11.12

CN1632822A,2005.06.29

CN119130972A,2024.12.13

审查员胡婷

权利要求书2页说明书8页附图2页

(54)发明名称

一种高精度的印刷质量检测方法及系统

(57)摘要

CN119722674B本发明公开了一种高精度的印刷质量检测方法及系统,涉及图像处理技术领域。所述方法包括:对印刷质检区域配置图像传感器,对目标印刷产品进行传感采集获取印刷图像;回传印刷图像,以印刷产品边界进行图像分割与灰度处理,确定灰度印刷图像;获取标准印刷模板,并构建像素堆栈空间,监督训练印刷配准模块;将灰度印刷图像传输至印刷配准模块,通过进行像素跃迁采样配准与像素隔点采样配准,确定缺陷像素特征;遍历缺陷像素特征,基于缺陷匹配器进行缺陷类型匹配,输出印刷质量数据。解决了现有技术中印刷质量检测精度和效率较低的技术

CN119722674B

对印刷质检区域配置图像传感器,对目标印刷产品进

对印刷质检区域配置图像传感器,对目标印刷产品进行传感采集

获取印刷图像

回传所述印刷图像,以印刷产品边界进行图像分割与灰度处理,确定灰度印刷图像

获取标准印刷模板,并构建像素堆栈空间,监督训练印刷配准模

块,其中,所述印刷配准模块包含第一像素配准单元与第二像素

配准单元,以像素跃迁采样进行第一采集配准,以像素隔点采样

进行第二采集配准

将所述灰度印刷图像传输至所述印刷配准模块,通过进行像素跃

迁采样配准与像素隔点采样配准,确定缺陷像素特征

遍历所述缺陷像素特征,基于缺陷匹配器进行缺陷类型匹配,输

出印刷质量数据

CN119722674B权利要求书1/2页

2

1.一种高精度的印刷质量检测方法,其特征在于,所述方法包括:

对印刷质检区域配置图像传感器,对目标印刷产品进行传感采集获取印刷图像;

回传所述印刷图像,以印刷产品边界进行图像分割与灰度处理,确定灰度印刷图像;

获取标准印刷模板,并构建像素堆栈空间,监督训练印刷配准模块,其中,所述印刷配准模块包含第一像素配准单元与第二像素配准单元,以像素跃迁采样进行第一采集配准,以像素隔点采样进行第二采集配准;

将所述灰度印刷图像传输至所述印刷配准模块,通过进行像素跃迁采样配准与像素隔点采样配准,确定缺陷像素特征;

遍历所述缺陷像素特征,基于缺陷匹配器进行缺陷类型匹配,输出印刷质量数据;

其中,所述进行像素跃迁采样配准,包括:

将所述灰度印刷图像传输至所述第一像素配准单元,根据预设像素扫描方式,进行图像像素扫描与像素跃迁识别,定位像素跃迁坐标;

根据预设窗口尺度,对所述像素跃迁坐标进行窗口像素向量采集,添加进所述像素堆栈空间,确定第一像素矩阵;

根据所述标准印刷模板,确定第一标准像素矩阵,对所述第一标准像素矩阵与所述第一像素矩阵进行配准校对,定位异常像素区域,其中,所述异常像素区域为未配准窗口框定区域;

其中,所述配准校对以像素位置为第一配准目标,以灰度向量为第二配准目标,其中,所述灰度向量包含像素跃迁坐标的灰度值与窗口灰度梯度特征,所述窗

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