CN114690199B 光电检测装置、其测试方法及减少暗电流影响的方法 （趣眼有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114690199B(45)授权公告日2025.07.11

(21)申请号202210349796.6

(22)申请日2020.10.24

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114690199A

(43)申请公布日2022.07.01

(30)优先权数据

16/662,6652019.10.24US

63/075,4262020.09.08US

63/093,9452020.10.20US

63/094,9132020.10.22US

(62)分案原申请数据

202080005868.42020.10.24

(73)专利权人趣眼有限公司地址以色列特拉维夫市

(72)发明人阿里尔·达南俄梅尔·卡帕奇乌利尔·利维乌拉罕·巴卡尔纳达夫·梅拉穆德

约尼·普罗斯珀·沙利波

罗尼·多布林斯基

希莱尔·希莱尔

(74)专利代理机构深圳紫藤知识产权代理有限公司44570

专利代理师吕姝娟

(51)Int.CI.

G01S17/89(2020.01)

G01S17/894(2020.01)

G01S7/484(2006.01)

G01S7/4861(2020.01)

GO2B6/42(2006.01)

(56)对比文件

CN106525233A,2017.03.22

CN107340058A,2017.11.10

审查员王凯

权利要求书4页说明书59页附图35页

(54)发明名称

光电检测装置、其测试方法及减少暗电流影响的方法

(57)摘要

CN114660199B公开了光电检测装置、其测试方法及减少暗电流影响的方法，涉及红外光子学中使用的电光器件及激光器。所述光电检测装置包括：有源感光位点，包括有源光电二极管；参考感光位点，包括参考光电二极管；第一电压控制电流电路，由电压控制电流源或电压控制电流汇组成，所述第一电压控制电流电路耦接到所述有源光电二极管；及控制电压生成电路，被耦合到所述有源电压控制电流电路及所述参考感光位点，并被用于向所述电压控制电流电路提供一控制电压，所述控制电压具有电压电平，所述电压电平响应于所述参考光电二极管的暗电流，以减少所述有源光

CN114660199B

SWIR

SWIR光学系统

708910

712控制器

612

618

704

传感器702

706PDA

710处理器

706PD

700

600

CN114690199B权利要求书1/4页

2

1.一种光电检测装置，其特征在于：包括：

一有源感光位点，包括一有源光电二极管；

一参考感光位点，包括一参考光电二极管；

一第一电压控制电流电路，由一电压控制电流源或一电压控制电流汇组成，所述第一电压控制电流电路耦接到所述有源光电二极管；及

一控制电压生成电路，被耦合到所述第一电压控制电流电路及所述参考感光位点，并被用于向所述第一电压控制电流电路提供响应于所述参考光电二极管的暗电流被生成的具有一电压电平的一控制电压，以减少所述有源光电二极管的暗电流对所述有源感光位点的一输出的一影响。

2.根据权利要求1所述的光电检测装置，其特征在于：所述控制电压生成电路包括用于提供所述控制电压的一放大器。

3.根据权利要求2所述的光电检测装置，其特征在于：所述光电检测装置包括一参考电压控制电流电路，所述参考电压控制电流电路由一电压控制电流源或一电压控制电流汇组成，所述参考电压控制电流电路耦合到所述参考光电二极管，其中所述放大器的一第一输入被供应有一第一输入电压，并且其中所述放大器的一第二输入被电耦合在所述参考光电二极管与所述参考电压控制电流电路之间。

4.根据权利要求3所述的光电检测装置，其特征在于：所述第一电压控制电流电路及所述参考电压控制电流电路被耦合到所述放大器的一输出，并且所述放大器连续减少在所述参考电压控制电路的一输出与所述第一输入电压之间的一差异，从而生成所述控制电压。

5.根据权利要求4所述的光电检测装置，其特征在于：所述光电检测装置包括：

多个有源感光位点，每个有源感光位点包括一有源光电二极管，

多个参考感光位点，每个参考感光位点包括多个参考光电二极管，多个第一电压控制电流电路，每个第一电压控制电流电路被耦合到所述多个有源感光位点中的至少一者的所述有源光电二极