CN119984346B 一种工业机器视觉测量系统校准方法及装置 （深圳天溯计量检测股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN119984346B(45)授权公告日2025.07.11

(21)申请号202510480800.6

(22)申请日2025.04.17

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119984346A

(43)申请公布日2025.05.13

(73)专利权人深圳天溯计量检测股份有限公司地址518000广东省深圳市龙岗区宝龙街

道宝龙社区锦龙大道2号1栋1层-6层、4栋1层-5层、2栋1层-2层

(72)发明人龚敏李文谢蝉

阿迪拉·阿力木田黎贺世豪

(51)Int.CI.

GO1C25/00(2006.01)

G06T7/00(2017.01)

GO6T7/62(2017.01)

(56)对比文件

CN117704963A,2024.03.15CN119642697A,2025.03.18审查员闫舒

(74)专利代理机构深圳运赢知识产权代理事务

所(普通合伙)44771专利代理师王倩斐

权利要求书4页说明书16页附图2页

(54)发明名称

一种工业机器视觉测量系统校准方法及装置

(57)摘要

CN119984346B本发明涉及机器视觉技术领域，具体为一种工业机器视觉测量系统校准方法及装置，包括以下步骤：利用玻璃线纹尺和圆形靶标，采集误差数据构建标准化校准数据集，获取全域误差梯度场、残差趋势图谱、残差权重系数表，融合尺寸补偿值与方向性修正值，构建校准矩阵，获取系统校准结果。本发明中，通过多源误差数据的融合建模，提升系统对误差来源的识别精度，结合梯度场构建与趋势图谱提取，增强误差补偿的方向性与空间连续性，利用权重系数分配机制，实现了对动态与静态误差影响力的差异化控制，采用多维参数融合的校准矩阵，优化整体测量精度的

CN119984346B

S1

S1

利用玻璃线纹尺，在多个校准位置采集多次尺寸误差测量值并计算平均值，利

用圆形靶标图像，同步采集动态场景下多个测点的残差极差值和静态场景下的

残差均值，获取标准化校准数据集

S2

调用标准化校准数据集，利用尺寸误差测量值数据集，计算每个校准位置的平

均误差值，分析梯度变化并计算平滑修正参数，利用离散点构建工作台全域的

连续误差场，生成全域误差梯度场

S3

调用标准化校准数据集，利用动态残差极差值数据集，以拟合圆心为原点，根

据固定角度将残差分布区域划分为多个扇区单元，通过聚合每个扇区内的残差

值，计算扇区残差极差，分析测点径向距离变化趋势，生成残差趋势图谱

54

调用标准化校准数据集，调用动态残差极差值数据集、静态残差均值数据集，

通过分析动态残差波动数据和静态残差稳定性对系统误差的影响程度，计算动

态残差和静态残差的权重系数，生成残差权重系数表

S5

调用全域误差梯度场、残差趋势图谱和残差权重系数表，利用梯度场作为尺寸

误差补偿基准值，采用趋势图谱作为方向性误差修正值，结合残差权重系数，

动态调整方向性修正值的应用强度，根据坐标数据，将调整后的修正值和尺寸

误差补偿值进行融合，构建校准矩阵对视觉测量系统进行校准，获取系统校准

结果

CN119984346B权利要求书1/4页

2

1.一种工业机器视觉测量系统校准方法，其特征在于，所述方法包括：

S1:利用玻璃线纹尺，在多个校准位置采集多次尺寸误差测量值并计算平均值，利用圆形靶标图像，同步采集动态场景下多个测点的残差极差值和静态场景下的残差均值，获取标准化校准数据集；

利用玻璃线纹尺，在多个校准位置采集多次尺寸误差测量值并计算平均值，利用圆形靶标图像，同步采集动态场景下多个测点的残差极差值和静态场景下的残差均值，获取标准化校准数据集的步骤具体为：

S101:利用玻璃线纹尺，在每个校准位置进行多次尺寸测量，调用每个位置对应的多次尺寸误差测量值，计算每组尺寸误差测量值间的平均值，结合位置编号，建立尺寸误差平均值集合；

S102:调用所述尺寸误差平均值集合，利用圆形靶标图像，采集动态场景下的每个测点的残差极差值，获取静态场景下的每组测点的残差均值，生成多场景测点残差数据组；

S103:根据所述多场景测点残差数据组，结合测量位置信息，对尺寸误差测量值、动态残差极差值、静态残差均值进行标准化处理，并分别构建测量数据集，包括尺寸误差测量值数据集、动态残差极差值数据集、