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集成电路低功耗扫描测试方法：原理、创新与应用实践

一、引言

1.1研究背景与意义

1.1.1集成电路发展趋势

在当今数字化时代，集成电路作为现代电子系统的核心，其发展历程充满了变革与突破。自1958年世界上第一块集成电路诞生以来，集成电路技术便以惊人的速度发展，遵循着摩尔定律，即集成电路上可容纳的晶体管数目大约每18个月便会增加一倍，性能也将提升一倍。随着半导体制造工艺从微米级逐步迈入纳米级，集成电路的集成度和性能得到了极大提升。如今，在一块微小的芯片上，能够集成数十亿乃至数万亿个晶体管，使得电子设备的功能愈发强大，体积却不断缩小。从早期的大型计算机到如今的智能手机、可穿戴设备等