GB/T 4937.40-2025半导体器件　机械和气候试验方法　第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法.pdf

ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT4937.402025IEC60749-402011

半导体器件机械和气候试验方法

:

第部分采用应变仪的板级跌落试验方法

40

——

SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods

:

Part40Boardleveldrotestmethodusinastrainaue

pggg

(:,)

IEC60749-402011IDT

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

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GBT4937.402025IEC60749-402011

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅴ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4试验设备…………………2

5试验程序…………………2

5.1试验样品……………2

5.2试验板………………2

5.3焊膏…………………2

5.4安装方式……………2

5.5预处理………………2

5.6初始测试……………2

5.7中间测试……………3

5.8最终测试……………3

6试验方法…………………3

6.1目的…………………3

6.2跌落试验设备示例…………………3

6.3试验板固定夹具示例…