深度解析(2026)《SJT 10195-1991中小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件》：一部穿越时代的测试技术法典与未来十年产业趋势前瞻.pptxVIP

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目录

一、追本溯源：专家视角解读SJ/T10195-1991诞生的时代背景、核心使命及其在当今“缺芯潮”下的历史镜鉴价值

二、庖丁解牛：深度剖析标准架构与核心术语定义体系，掌握打开数字IC测试技术大门的“语言学”钥匙

三、测什么与为何测：深度解构标准中的静态参数测试项目矩阵，从电压到电流的本质透视芯片健康

四、如何测得准：专家拆解标准对测试仪性能指标的严苛要求，探寻高精度与高可靠性的底层逻辑

五、从图纸到设备：深度剖析测试仪设计与构造的通用技术条件，解读硬件背后的“可靠性设计哲学”

六、人机交互的艺术：结合现代UI设计趋势，再评标准中关于操作与指示装置要求的超前与局限