可重配置闪存芯片测试平台设计与实现.pdfVIP

一、立项目的

随着闪存工艺技术的不断提升，在容量不断提升的同时，不同

闪存之间的特性差异正变得愈发显著。此外，随着绝缘层厚度

的缩减，闪存中各种二次寄生效应对单元的干扰也变得非

常复杂。这些现象对固态硬盘的设计带来了诸多不利的影响。所以需要

设计一种可靠的闪存测试平台，使开发人员能够在设计固态硬盘之

前就对闪存进行细致的测试与评估。

闪存的种类主要有SLC，MLC与TLC，接口又可以分为异步接口、

同步Toggle接口等，并且不同闪存生产厂商之间的指令也不尽相同。

闪存测试平台需要能够同时支持这些不同种类、接口的闪存。

本项目计划设计一种能根据闪存的种类进行不同配置的测试平台，

以满足固态硬盘开发以及闪存测试的需求。目前国内尚无相关技术

的研发。

本项目的目标在于开发能够支持多种闪存的闪存测试平台。这

种测试平台能够完成对SLC、MLC以及TLC闪存的测试工作，并且

能够同时支持异步以及同步接口模式。此外，为了能够满足对闪存器件

批量测试的需求，对闪存的测试必须做到多通道独立操作，以满足

测试时的效率要求。

二、技术方案及创新点：

本项目需要设计一种能支持多种闪存规格的可重配置的闪存

测试平台。为了达到这一目的，本项目在开发的过程中需要设计新

的闪存控制器模块，构建能够多通道并行处理的系统架构，能够与主机

进行快速通讯的USB3.0接口并开发相关的配套软件及其固件。

本项目的关键技术包括：

1.支持多种闪存器件的闪存控制器。由于闪存测试平台需要

对市面上的多种闪存器件进试，所以本项目设计了一种具有时序可

重配的闪存控制器。测试时可以根据不同的闪存器件，对控制器进行不

同的配置，从而实现对多种闪存器件的支持。

2.具备异常处理的多通道并发机制。由于在闪存测试的过程

中，不仅需要对多个通道的闪存器件进试，还要能够处理在测试过

程中可能遇到的编程失败、擦除失败、命令超时等异常情况进行处理，

并需要各个通道之间的数据相互独立无影响。

本项目的创新点包括：

1.该平台采用了一种新的可灵活配置的闪存控制器。这种闪存控

制器通过微代码来产生接口时序。因此，开发人员可以根据闪存芯

片的时序要求对该闪存控制器的控制方式编写微代码。在闪存测试

平台使用的过程中，应用软件可根据待测闪存的种类对闪存控制器

配置不同的微代码，从而实现对多种闪存的支持。

2.该平台设计了四组相互独立的并行数据通路，每一组数据通路

分时控制两个闪存控制器，这样通过并行化方式实现了对八组闪存通道

的完全独立操作，并且通过实时轮询的方式实现了对异常错误状况的及

时处理，保证了闪存测试平台在测试过程中的可靠运行。

本项目完成时，预计可以达到以下的技术水平。

1、支持闪存类型：SLC、MLC以及TLC

2、支持的封装类型：TSOP、BGA100以及BGA132

3、并发测试数目：8片

4、支持的闪存接口：异步接口以及同步Toggle接口

5、支持USB3.0接口通讯

6、压：2.7～3.6V

本项目完成以后，可以更加有效地帮助本公司进行固态硬盘的开

发，降低研发风险，此外还可以帮助本公司测试入库的闪存的品质，提

早筛选掉不良品，预计其投入运行后可直接或间接地为本公司带来一百万

美金的效益。

本项目将采用自顶向下的开发模式。首先，由架构设计人员进行软

硬件划分，评估实现开销，规划设计模块以及固件算法。接下来，由相

关的硬件以及软件设计团队在此基础上完成相关的开发工作。最终的设

计结构将会整合进已有的闪存控制器中，并通过相关的测试验证本项目

所开发技术的效用。

现有开发条件和工作基础

1.承担单位开展本项目的条件（技术、人才、设施条件等）；

主要产品为固态硬盘，目前是世界上少数的拥有完整的自主知识产

权的固态企业。从控制原理到整体软、硬件设计、生产验证、产业

化设备开发、质量