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氮化镓基高电子迁移率晶体管热特性及检测技术的深度剖析与创新研究

一、引言

1.1研究背景与意义

随着现代电子技术朝着高频、高功率以及高效率方向飞速发展，对半导体器件的性能提出了极为严苛的要求。氮化镓（GaN）基高电子迁移率晶体管（HEMT），作为第三代半导体器件的杰出代表，凭借其卓越的材料特性和优异的器件性能，在电子领域占据了举足轻重的地位。

氮化镓材料具备宽禁带（约3.4eV）、高临界击穿电场（＞3MV/cm）、高电子饱和漂移速度（约2.5×10?cm/s）以及较高的热导率等一系列独特优势。这些特性赋予了氮化镓基高电子迁移率晶体管诸多出色的性能，使其在众多领域展现出巨大的应用潜力。在