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提高受激发射损耗显微术信噪比的研究.pdf

提高受激发射损耗显微术信噪比的研究.pdf

    摘要

    摘要

    随着生物学、医学等领域的发展，突破光学衍射极限的超分辨成像技术成

    为关键需求。而受激发射损耗显微术(StimulatedEmissionDepletionMicroscopy，

    STED)作为超分辨率荧光显微镜的典型代表，在高功率损耗光强作用下能够实

    现突破光学衍射极限，高功率损耗光的引入也不可避免的对成像质量造成额外

    影响，例如荧光信号不完全损耗和损耗光对荧光分子的重新激发导致成像的背

    景噪声，降低了图像信噪比

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