真空溅射镀膜高精度压力传感器芯片方案.docVIP

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  • 2026-02-04 发布于江苏
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真空溅射镀膜高精度压力传感器芯片方案.doc

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真空溅射镀膜高精度压力传感器芯片方案

方案目标与定位

(一)方案目标

本方案聚焦真空溅射镀膜工艺高精度压力传感器芯片的研发、优化及产业化,贴合航空航天、半导体装备、化工测控、高端电子等场景对膜层致密性、耐温耐腐、高精度监测的核心需求,分三阶段推进。短期(1-2年):突破真空溅射镀膜制备与传感集成技术,完成原型开发,实现量程0-1MPa、精度±0.01%FS,膜层耐温上限220℃,适配-60℃至220℃工况,覆盖航空液压部件、半导体制程、化工精密测控场景;中期(2-3年):优化溅射参数与芯体适配性,维持核心精度与膜层性能,强化膜层均匀性与极端环境稳定性,搭建规模化生产线,年产能达200万颗;长期(3-5年):构建真空溅射镀膜传感知识产权体系,突破膜层性能与极端工况适配壁垒,跻身国内中高端溅射镀膜压力传感器芯片主流供应商,服务高端制造、航空航天、半导体领域。

(二)方案定位

1.技术定位:以磁控真空溅射工艺为核心,选用TiAlN复合膜材,融合MEMS硅压阻传感技术与精密封装设计,解决传统镀膜膜层疏松、附着力弱、高温失效痛点,打造符合GB/T18488工业标准及GJB150A军工标准的专用芯片。2.市场定位:聚焦高端精密测控装备配套市场,优先覆盖航空航天企业、半导体装备厂商、高端化工企业,逐步拓展核电测控、精密仪器领域,填补国内真空溅射工艺专用高精度压力传感器芯片自主化空白。3.战略定位:依托极端场景定制化创新,推动芯片向“高精+强防护+宽温域”升级,为高温、腐蚀、高洁净环境下的压力监测提供核心支撑,保障复杂工况下的监测精准度与使用寿命。

方案内容体系

(一)核心技术体系

1.真空溅射镀膜核心工艺:采用磁控溅射技术,在420不锈钢基底沉积TiAlN复合膜层,膜厚2-8μm,致密度≥99.8%,显微硬度≥2500HV,耐酸碱(pH2-12)、耐高温氧化,附着力≥50N;实施基底预处理-溅射沉积-真空退火一体化工艺,膜层均匀性误差≤±3%,搭配激光焊接密封,防护等级IP68,适配极端环境。2.高精度传感集成工艺:采用MEMS硅压阻芯体,搭配八点分段宽温补偿电路,实现0-0.8MPa常用区间精准监测,检出限0.001MPa;通过耐高温陶瓷绝缘胶实现芯体与镀膜基底无缝贴合,降低温度干扰,噪声≤1.5μV,保障膜层防护与传感精度协同。3.适配技术设计:集成低功耗信号调理模块,静态功耗≤0.3mA,支持24V工业、28V军工双供电;支持RS485/4-20mA双接口,抗电磁干扰符合GB/T17626标准,内置过载保护与膜层失效自诊断功能,适配极端场景自动化管控。

(二)产品规格参数

量程覆盖0-0.01MPa至0-1MPa(专用量程0-0.8MPa),支持定制化适配;精度等级±0.008%-±0.01%FS,全温域(-60℃至220℃)温漂≤0.00008%FS/℃,年漂移≤0.0004%FS;420不锈钢基底+TiAlN膜层,显微硬度≥2500HV,附着力≥50N,响应时间≤0.08ms,重复性误差≤±0.005%FS;抗振10-3000Hz(20g)、抗冲击1500g(1ms),密封泄漏率≤5×10?12Pa·m3/s;耐盐雾≥5000小时,耐高温老化≥3000小时,工作寿命≥150000小时;供电24-28VDC,静态功耗≤0.3mA,噪声≤1.5μV,EMC符合GB/T17626标准;输出支持模拟量(4-20mA)与数字量(RS485),封装尺寸3.2mm×3.2mm×2.0mm,重量≤3.0g,适配高端场景结构需求。

(三)上下游协同体系

上游:与高纯度TiAlN靶材厂商、420不锈钢基底供应商、磁控溅射设备企业建立定点合作,保障靶材纯度≥99.95%、基底平整度公差≤0.001mm及设备精度;对接专用设备供应商,定制磁控溅射机、真空退火炉、膜层性能检测设备。中游:搭建一体化生产线,自主掌控MEMS芯体制造、真空溅射镀膜、传感集成、信号校准、成品测试核心工序,执行ISO9001体系(军工场景适配GJB9001C),落实批次溯源与全检管控,确保膜层性能与产品精度一致性。下游:与航空航天、半导体企业联合开发,提供定制化膜层防护方案,参与极端环境监测装备定型测试,构建“芯片-模块-高端测控系统”协同验证体系,纳入工业、军工、半导体合格供应商名录。

实施方式与方法

(一)研发实施路径

1.预研阶段(1-6个月):组建专项团队,调研极端场景需求与膜层性能要求,完成芯片方案设计与溅射工艺仿真;对接检测机构明确膜层性能、精度及行业标准,申请发明专利3-5项;筛选靶材与设备供应商,完成样品兼容性与膜层附着力测试,签订质量保障协议。2.原型开发阶

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