GB/Z 117.101-2026光伏组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分:晶体硅组件 分层.pdf

  • 0
  • 0
  • 约1.29万字
  • 约 16页
  • 2026-02-04 发布于四川
  • 正版发售
  • 现行
  • 正在执行有效期
  •   |  2026-01-04 颁布

GB/Z 117.101-2026光伏组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分:晶体硅组件 分层.pdf

ICS27.160

CCSK83

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

/—/:

GBZ117.1012026IECTS62804-1-12020

光伏组件电势诱导衰减测试方法

:

第部分晶体硅组件分层

1-1

PhotovoltaicmodulesTestmethodsforthedetectionofotential-

p

—:—

inducedderadationPart1-1CrstallinesiliconDelamination

gy

(:,)

IECTS62804-1-12020IDT

2026-01-04发布

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—/:

GBZ117.1012026IECTS62804-1-12020

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………2

4样品………………………2

5试验步骤…………………2

5.1概述…………………2

5.2初始外观检查………………………3

5.3湿漏电流试验………………………3

5.4湿热试验……………3

5.5电压应力试验………………………3

5.6湿漏电流试验………………………5

5.7最终外观检查………………………5

6测试报告…………………6

()…………

附录资料性分层现象示例

A

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档