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超细氧化亚铜形貌与粒度精准控制策略及性能关联研究

一、引言

1.1超细氧化亚铜概述

超细氧化亚铜（Cu?O），作为铜的一种重要氧化物，呈现出红色或橙红色的外观，是一种极具吸引力的材料。其晶体结构为等离子长方体，晶格参数相对稳定，可通过X射线衍射等技术进行精确测定。在众多特性中，氧化亚铜突出的半导体特性使其在现代材料科学领域占据重要地位。其禁带宽度约为2.1电子伏特（eV），这一数值决定了它独特的电学和光学行为。在一定的温度和能带结构条件下，它展现出p型半导体的特性，这意味着其导电过程主要由空穴（正电荷载流子）主导，与常见的n型半导体（电子为主要载流子）形成鲜明对比。

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