深度解析(2026年)《SYT 7410.2-2020岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分:聚焦离子束切片法》.pptxVIP

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  • 2026-02-06 发布于浙江
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深度解析(2026年)《SYT 7410.2-2020岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分:聚焦离子束切片法》.pptx

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目录

一、聚焦离子束技术如何颠覆传统岩石孔隙观测?专家深度剖析三维孔隙结构测定的技术革命(一)从二维到三维的范式转变:FIB-SEM技术为何能成为岩石微观结构研究的里程碑?

(二)技术原理核心解构:聚焦镓离子束与扫描电镜的协同工作机制全解析

(三)纵向对比传统方法:压汞法、CT扫描与FIB切片法的本质差异与优劣研判

(四)专家前瞻视角:FIB技术将如何引领非常规油气储层表征的未来十年?

二、深入标准文本:逐条解读SY/T7410.2-2020的核心要求与技术参数设定依据

(一)标准适用范围与界限的精准界定:何种岩样、何种孔隙尺度适用本方法?

(二)仪器设备关键性能指标深度剖

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