宣贯培训(2026年)《GBT 17550.2-1998识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第2部分可访问光区域的尺寸和位置》长文.pptxVIP

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目录

一、光记忆卡技术基石与产业价值前瞻：深度解读GB/T17550.2核心框架及其在物联网与大数据时代的战略定位

二、精密测绘与空间界定：专家视角详解标准中可访问光区域的绝对坐标、基准边及容差设计的科学内涵

三、从物理尺寸到数据疆域：剖析卡片类型与对应光区域尺寸规格，揭示标准化如何保障海量信息稳定存储

四、位置精度的工程语言：深入解析基准孔、卡片边缘与光区域起始点的位置关系及测量方法论

五、容差体系：协调理想设计与现实制造的桥梁——深度剖析尺寸与位置公差的设定逻辑与质量控制要点

六、线性记录方法的物理载体：探究光道布局、扇区结构与可访问光区域定义的协同关系与数据寻址原理

七、兼容性