基于大尺寸二次离子质谱仪铀微粒分析技术研究.pdfVIP

第59卷增刊原子能科学技术Vol.

59,

Suppl.

2025年8月Atomic

Energy

Science

and

TechnologyAug.

2025

基于大尺寸二次离子质谱仪铀微粒分析技术研究

1,21,2,*2221,21,21,2

武勇，秦明宽，谭靖，郭冬发，崔建勇，何升，蔡叶蕾，林燕

（1.

铀资源探采与核遥感全国重点实验室，北京100029；2.

核工业北京地质研究院，北京100029）

摘要：核安全保障是国际社会共同关注的话题，大尺寸二次离子质谱仪（LG-SIMS）可以高效分析铀微粒样

品中的铀同位素，用以监管未申报的核活动。为构建精准的铀微粒铀同位素测试方法，本文开展了以下研

究：首先，以U010铀微粒国际标准物质（U010标准样品）为测试对象，通过扫描电镜与能谱测试获取其形

貌及成分特征；其次，通过优化LG-SIMS仪器参数及实验条件，明确离子源电压强度、一次离子束强度、

光路传输系统、入口狭缝、出口狭缝、能量狭缝、目标离子质谱峰强度及位置等关键参数；最后，基于

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U010标准样品，建立LG-SIMS铀微粒的铀同位素测试方法。结果表明，U/U、U/U及U/U的测

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试结果与推荐值在误差范围内一致，且δ（U/U）、δ（U/U）、δ（U/U）分别为1.28%、0.33%、0.41%，

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优于测试技术指标要求。同时，针对第二次LG-SIMS的δ（U/U）单项测试结果低于测试技术指标的情

2351+235+

况，分析其主要原因是铀氢化物离子（UH）对U离子信号的干扰和微粒样品周边杂质的干扰等。综

合以上研究结果可知，基于LG-SIMS测试平台对铀微粒开展U同位素的测试技术可行、方法合理，这将为

我国在核安全领域发挥作用提供有力的技术支撑。

关键词：核保障；LG-SIMS；铀微粒分析；铀同位素

中图分类号：TL99

文献标志码：A

文章编号：1000-6931（2025）S2-0228-09

doi：10.7538/yzk.2025.youxian.0214

ResearchonUraniumParticleAnalysisTechnology

BasedonLargeGeometrySecondaryIonMassSpectrometry

1,21,2,*222