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- 2026-02-13 发布于浙江
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机械工程师
MECHANlCALENGlNEER
石建城。余晓流,谈莉斌
(安徽工业大学机械工程学院,安徽马鞍山243002)
摘要:采用超声相控阵对20钢试样横通孔缺陷深度进行了无损检测试验,分别研究了探头激发晶片数为4、8、16三种情
mm、12.70mm、19.05mm、25.40mm、31.75mm、38.10
况下,声束聚焦深度为6.35mm的缺陷深度检测精度。结果表
明:近表面?L1、2受超声检测盲区的影响,检测精度低:孔1、2在激发晶片数为16时受近场区内声压波动的影响检测精度
波动大,近场区外聚焦深度与缺陷深度相近时检测精度高:超声检测盲区和近场区外,检测精度随探头激发晶片数的增加
而提高。通过对缺陷深度检测精度的比较,分析了检测精度的影响因素,为超声相控阵缺陷检测方法的选择和检测精度的
提高提供了依据。
关键词:20钢.超声相控阵;激发晶片数;聚焦深度;检测精度
161.5
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