JJF(皖) 259-2026 半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范.docxVIP

(皖)安徽省地方计量技术规范JJF（皖）259-2026半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范

(皖)

安徽省地方计量技术规范

JJF（皖）259-2026

半导体器件PCT老化综合试验系统

校准规范

CalibrationSpecificationforIntegratedPCTAgingTestSystemsfor

SemiconductorDevices

2026—01—09发布2026—03—01实施

2026—01—09发布

2026—03—01实施

安徽省市场监督管理局发布

JJF(皖)259—2026半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范JJF（皖）259—2026CalibrationSpecificationforIntegratedPCTAgingTestSystems

JJF(皖)259—2026

半导体器件PCT

老化综合试验系统校准

规范

JJF（皖）259—2026

CalibrationSpecification

for

IntegratedPCTAgingTest

Systems

for

Semiconductor

Devices

归口

单位：安徽省热工计量技术委员会

主要起草单位：池州市计量测试所

宣城市标准计量所

安庆市计量测试所

JJF(皖)259—2026本规范委托安徽省热工计量技术委员会负责解释

JJF(皖)259—2026

本规范委托安徽省热工计量技术委员会负责解释

JJF(皖)259—2026本规范主要起草人：吴蔡祥（池州市计量测试所）马克华(池州市计量测试所)左罗(池州市计量测试所)殷锦汉(宣城市标准计量所)蒋立新(安庆市计量测试所)

JJF(皖)259—2026

本规范主要起草人：

吴蔡祥（池州市计量测试所）

马克华

(池州市计量测试所)左罗

(池州市计量测试所)

殷锦汉(宣城市标准计量所)

蒋立新(安庆市计量测试所)

JJF(皖)259—2026目录引言..........................................................(Ⅱ)1范围........................................................（1）2引用文件....................................................（1）3术语........................................................（1）4

JJF(皖)259—2026

目录

引言..........................................................(Ⅱ)

1范围........................................................（1）

2引用文件....................................................（1）

3术语........................................................（1）

4概述........................................................（2）

5计量特性....................................................（2）

6校准条件....................................................（3）

6.1环境条件..................................................（3）

6.2负载条件..................................................（3）

6.3测量标准及其他设备........................................（3）

7校准项目和校准方法..........................................（4）

7.1校准项目...........................................