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探寻D芯片良率与测试成本的内在关联及优化策略

一、引言

1.1研究背景

在当今数字化时代，芯片作为现代科技的核心，广泛应用于各个领域，从智能手机、电脑到汽车、医疗设备，乃至航空航天、国防军事等关键行业，芯片都扮演着不可或缺的角色。它是电子设备的“大脑”，决定着设备的性能、功能和运行效率，对推动科技进步和社会发展具有深远影响。随着5G、人工智能、物联网、大数据等新兴技术的迅猛发展，对芯片的性能、功耗、尺寸等方面提出了更高的要求。这些技术的广泛应用，使得芯片市场需求持续增长，同时也加剧了芯片行业的竞争。

在芯片制造过程中，良率和测试成本是两个至关重要的因素，直接关系到芯片制造商的经济效益和市