《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFETs)高温栅极恒定偏置应力和交替偏置应力试验方法》.pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约1.06万字
  • 约 11页
  • 2026-02-25 发布于河南
  • 举报

《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFETs)高温栅极恒定偏置应力和交替偏置应力试验方法》.pdf

ICS31.080

CCSL40

T/CASME

团体标准

T/CASMEXXXX—XXXX

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管

(SiCMOSFETs)高温栅极恒定偏置应力和

交替偏置应力试验方法

Hightemperaturegateconstantbiasandalternatingbiastestmethodforsilicon

carbidemetaloxidesemiconductorfiledeffecttransistors(SiCMOSFETs)

(征求意见稿)

在提交反馈意见时,请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

XXXX-XX-XX发布

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档