新建芯片射频性能测试设备研发中试车间含信号发生器配套项目可行性研究报告.docx

新建芯片射频性能测试设备研发中试车间含信号发生器配套项目可行性研究报告

第一章项目总论

项目名称及建设性质

项目名称：新建芯片射频性能测试设备研发中试车间含信号发生器配套项目

项目建设性质：本项目属于新建高科技产业项目，聚焦芯片射频性能测试设备的研发与中试，同步配套信号发生器等关键辅助设备，旨在突破芯片射频测试领域的技术瓶颈，填补国内中高端测试设备的市场空白，推动我国半导体测试装备产业的自主化发展。

项目占地及用地指标：项目规划总用地面积35000平方米（折合约52.5亩），建筑物基底占地面积21000平方米；规划总建筑面积42000平方米，其中研发中试车间32000平方米、辅助设施