CN111398773B 可测试的微器件排列结构及其制作方法、测试方法 (厦门乾照半导体科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-03-04 发布于山西
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CN111398773B 可测试的微器件排列结构及其制作方法、测试方法 (厦门乾照半导体科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN111398773B

(45)授权公告日2025.05.09

(21)申请号202010360243.1G01R1/073(2006.01)

(22)申请日2020.04

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