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现代材料测试技术复习题及答案

现代材料测试技术复习题及

答案

-标准化件发布号：（9456-EUATWK-MWUB-WUNN-INNUL-DDQTY-KII

现代材料测试技术复习

第部分

填空题：

1、X射线从本质上说，和线电波、可见光、γ射线样，也是种电磁波。

2、尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即衍射线的峰位、线形、强

度。

3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求

是稳定、强度、光谱纯洁。

4、利吸收限两边质量吸收系数相差分悬殊的特点，可制作滤波。

5、测量X射线衍射线峰位的法有七种，它们分别是7/8度法、峰巅法、切线法、弦中点

法、中线峰法、重法、抛物线法。

6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的法有三种，它们分别是哈那尔特索引、芬克

索引、字顺索引。

7、特征X射线产的根本原因是原内层电的跃迁。

8、X射线衍射仪探测器的扫描式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。

9、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：连续X射线光谱和特征X射

线光谱。

10、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为

X射线的衰减。

11、于X射线衍射仪的探测器主要有盖-弥勒计数管、闪烁计数管、正计数管、固体

计数管，其中闪烁计数管和正计数管应较为普遍。

12、光源单化的法：试推导布拉格程，解释程中各符号的意义并说明布拉格程的应

名词解释

1、X-射线的衰减：当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，

这种现象称为X-射线的吸收。

2、短波限：电次碰撞中全部能量转化为光量，此光量的波长

3、吸收限：物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增增加某限度即骤然增，称吸收

限。吸收限：引起原内层电跃迁的最低能量。

4、吸收限电--hv最长波长与原序数有关

5、短波限hv--电最短波长与管电压有关

6、Ｘ射线：波长很短的电磁波

7、特征Ｘ射线：是具有特定波长的X射线，也称单X射线。

8、连续Ｘ射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多X射线。

9、荧光Ｘ射线：当射的X射线光量的能量够时，可以将原内层电击出，被打掉了内层的受激原将发外层电

向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格定的特征X射线

10、次特征辐射：利X射线激发作产的新的特征谱线

11、Ka辐射：电由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线

12、相辐射：X射线通过物质时在射电场的作下，物质原中的电将被迫围绕其平衡位置振动，同时向四周辐射出与

射X射线波长相同的散射X射线，称之为经典散射。由于散射波与射波的频率或波长相同，位相差恒定，在同向上各

散射波符合相条件，称为相散射

13、相辐射：散射位相与射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相的

14、俄歇电：原中个K层电被激发出以后，L层的个电跃迁K层填补空，剩下的能量不是以辐射

15、原散射因：为评价原散射本领引系数f(f≤，E)称系数f为原散射因。他是考虑了各个电散射波的位相差之后

原中所有电散射波合成的结果

16、结构因：定量表征原排布以及原种类对衍射强度影响规律的参数，即晶体结构对衍射强度的影响

17、多重性因素：同晶族{hkl}中的等同晶数

18、系统消光：原在晶体中位置不同或种类不同引起某些向上衍射线消失的现象

简答与计算

1、某晶体粉末样品的XRD数据如下，请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。

d4.273.863.543.322.982.672.542.432.23

I/I01040861001090658

d2.162.071.841.751.541.381.261.181.06

I/I028557015352201

按强度;2.982.542.071.752.433.861.381.18

Hanawalt索引:

A:2.982.542.071.752.433.861.381.18

B:2.542.982.071.752.433.861.381.18

C:2.072.982.541.752.433.861.381.18

D:1.752.982.542.07