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附录A

（资料性）

典型一维材料测试示例

A.1样品来源

金纳米线从市场购买；银纳米线、铒（ErClSiO）纳米线、氮化硅（SiN）纳米线，硫化铋（BiS）

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纳米棒、多壁碳纳米管、单壁碳纳米管由企业或研发机构提供。

A.2仪器设备

A.2.1场发射（热场）透射电子显微镜

加速电压200kV、点分辨率0.14nm、信息分辨率0.10nm、能谱仪配备2个能谱探头（EDS）、配备

高角环形暗场（HAADF）探头。

A.2.2场发射（冷场）透射电子显微镜

加速电压300kV、点分辨率0.17nm、信息分辨率0.10nm、能谱仪配备1个能谱探头（EDS）、配备

高角环形暗场（HAADF）探头。

A.2.3双球差校正透射电镜

加速电压300kV、分辨率：50pm、配备物镜和聚光镜双球差矫正器、能谱仪配备四个对称式电制冷

能谱