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海思芯片HTOL老化测试技术规范

HTOL测试技术规范

拟制：克鲁鲁尔

审核：

批准：日期：2019-10-30

海思芯片HTOL老化测试技术规范

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V1.02019-10-30克鲁鲁尔首次发布

海思芯片HTOL老化测试技术规范

适用范围：

该测试它以电压、温度拉偏方式，加速的方式模拟芯片的运行状况，用于芯片寿命和长期上

电运行的可靠性评估。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HTOL老化测试需求。

简介：

HTOL(HighTemperatureOperatingLife)测试是芯片电路可靠性的一项关键性的基础测试,它

用应力加速的方式模拟芯片的长期运行，以此评估芯片寿命和长期上电运行的可靠性,通常称为

老化测试。本规范介绍DFT和EVB