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CN114664688B 对晶片载具中的晶片进行检测与标绘的方法 （台湾积体电路制造股份有限公司）.docxVIP

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  • 2026-03-10 发布于山西
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CN114664688B 对晶片载具中的晶片进行检测与标绘的方法 （台湾积体电路制造股份有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN114664688B

    (45)授权公告日2025.05.09

    (21)申请号202110466105.6

    (22)申请日2021.04.28

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114664688A

    (43)申请公布日2022.06.24

    (30)优先权数据

    17/190,7042021.03.03US

    (73)专利权人台湾积体电路制造股份有限公司

    地址中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号

    (72)发明人曾李全

    (74)专利代理机构南京正联知识产权代理有限公司32243

    专利代理师

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