CN107430059A 显微光谱分析用试样台的制作方法 (株式会社东丽分析研究中心).docxVIP

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CN107430059A 显微光谱分析用试样台的制作方法 (株式会社东丽分析研究中心).docx

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN107430059A

(43)申请公布日2017.12.01

2015-0755942015.04.02JP

2015-2114802015.10.28JP

2015-2381832015.12.07JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日

2017.08.08

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2016/0569932016.03.07

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2016/158221JA2016.10.06

(71)申请人株式会社东丽分析研究中心地址日本东京都

(72)发明人森胁博文小川美由纪

(51)Int.CI.

GO1N21/01(2006.01)

权利要求书1页说明书4页附图5页

(74)专利代理机构北京市金杜律师事务所11256

(74)专利代理机构北京市金杜律师事务所

11256

代理人杨宏军焦成美

(21)申请号201680009345.0

(22)申请日2016.03.07

(30)优先权数据

显微光谱分析用试样台的制作方法

(57)摘要

CN107430059A本发明涉及使用光学材料的显微光谱分析用试样台的制作方法,其特征在于,在使具有拒水性或拒油性的含全氟烷基聚醚基的硅烷化合物溶解于溶剂而形成的液体中浸渍光学材料,浸渍后对光学材料进行加热,接着清洗光学材料,

CN107430059A

CN107430059A权利要求书1/1页

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1.使用光学材料的显微光谱分析用试样台的制作方法,其特征在于,在使具有拒水性或拒油性的由下述结构式(I)表示的含有全氟烷基聚醚基的硅烷化合物溶解于溶剂而成的液体中浸渍光学材料,浸渍后对光学材料进行加热,接着清洗光学材料,使光学材料的表面被表面改性成拒水性或拒油性,

[化学式1]

式(I)中,a为1~30的整数,b为1~10的整数,c为1~20的整数,d为1~10的整数,e为1~20的整数,h为0~10的整数,g为0~20的整数,n为1~320的整数,m及p之和为3。

2.如权利要求1所述的显微光谱分析用试样台的制作方法,其中,所述光学材料包含选自硅、锗、蓝宝石、氟化钙、氟化钡、硒化锌及金刚石中的一种以上。

3.如权利要求1或2所述的显微光谱分析用试样台的制作方法,其中,所述溶剂包含选自醇类、酮类、醚类、醛类、胺类、脂肪酸类、酯类及腈类中的一种以上,并且,所述溶剂是经氟改性的溶剂。

4.如权利要求1~3中任一项所述的显微光谱分析用试样台的制作方法,其特征在于,进一步使用前端直径2~10μm的针将试样挤碎。

5.如权利要求1~4中任一项所述的显微光谱分析用试样台的制作方法,其中,在所述光学材料的被改性的一侧的表面,具有由线宽为1~1000μm的直线或曲线封闭的、能够在内侧蓄积溶液的区域,所述区域的面积为0.001~10mm2。

6.如权利要求1~5中任一项所述的显微光谱分析用试样台的制作方法,其中,所述区域的所述线具有凸部高度,其凸部高度为0.001~1μm。

7.如权利要求1~6中任一项所述的显微光谱分析用试样台的制作方法,其中,所述区域的所述线具有凹部深度,其凹部深度为0.001~1μm。

8.如权利要求1~7中任一项所述的显微光谱分析用试样台的制作方法,其中,在所述光学材料的被改性的一侧的表面,具有宽0.01~1mm且深0.001~0.1mm的槽或者直径0.01~1mm且深0.001~0.1mm的凹部。

CN107430059A说明书1/4页

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显微光谱分析用试样台的制作方法

技术领域

[0001]本发明涉及显微光谱分析用试样台的制作方法。

背景技术

[0002]例如,对于微小且微量的有机物的定性分析而言,使用了显微FTIR(傅立叶变换红外光谱议)等的显微光谱分析法是有效的方法。例如,当采用显微FTIR进行定性分析时,如果测定的试样的厚度不是最佳状态,则无法得到正常的FTIR光谱,因此,用于得到正常

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