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用原子力显微镜AFM测量粘着力的方法和接触角测量方法综述

目录

TOC\o1-3\h\u26636用原子力显微镜AFM测量粘着力的方法和接触角测量方法综述 1

228941.1引言 1

96381.2原子力显微镜的原理和结构 1

111521.1.1原理 1

140911.3测量粘着力的方法 3

261461.4辅助设备和装置 4

104271.5小结 5

1.1引言

对于微纳粘着力的测量，人们开发很多装置，比较常见的是扫描隧道显微镜（STM）、界面力显微镜（IFM）和原子力显微镜(AFM)等。

扫描隧道显微镜是1981年Binning和Rohrer共同发明的。扫描隧道显微镜主要是利用导电的样品表面与探针之间距离而产生的呈现指数变化的隧穿电流来进行成像。扫描隧道显微镜的出现使得研究材料表面的形貌、材料表面的物理化学性能有着有力的帮助。但是扫描隧道显微镜需要材料表面能够产生隧穿电子，因而需要样品必须具有一定的导电性。从而，有很多样品是没法通过扫描隧道显微镜进行测量研究的。

原子力显微镜通过记录力-位移曲线来测量粘着力，原子力显微镜因为它的不易受到污染而且不要求样品具有一定的导电性而被广泛应用在微观的粘着力测量当中。而原子力显微镜在生物医学、材料科学、化学分析等各个领域中的表面力的分析测量中都得到了广泛的应用