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现代材料测试技术试卷及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每题2分，共20分）

1.X射线衍射（XRD）分析中，晶面间距的计算公式基于（）

A.布拉格方程B.谢乐公式C.傅里叶变换D.布拉维定律

2.扫描电镜（SEM）中二次电子（SE）与背散射电子（BSE）的成像原理差异，导致（）

A.SE反映表面形貌，BSE反映成分衬度B.SE反映成分衬度，BSE反映表面形貌

C.SE分辨率高于BSED.BSE仅适用于非金属材料

3.透射电镜（TEM）选区电子衍射（SAED）获得的是（）

A.微区晶体结构B.微区成分信息C.样品表面形貌D.晶粒尺寸分布

4.差示扫描量热法（DSC）中，吸热峰对应材料（）过程

A.熔化或分解B.结晶或氧化C.相变或固化D.脱水或挥发

5.以下属于X射线荧光光谱（XRF）优点的是（）

A.可分析轻元素至重元素B.需真空环境C.样品需导电处理D.分辨率优于SEM

6.高分辨透射电镜（HRTEM）的分辨率可达（）数量级

A.微米级B.纳米级C.原子级（0.1-0.2nm）D.