无损检测 基于存储荧光成像板的工业计算机射线照相检测 第1部分：系统分类标准立项修订与发展报告.docx

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《无损检测基于存储荧光成像板的工业计算机射线照相检测第1部分：系统分类》标准发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReportonNon-destructiveTesting—IndustrialComputedRadiographywithStoragePhosphorImagingPlates—Part1:ClassificationofSystems

摘要

随着工业数字化、智能化转型的深入推进，无损检测技术作为保障工业装备安全与质量的关键手段，其自身的数字化升级势在必行。计算机射线照相技术（ComputedRadiography,CR）作为一种重要的间接数字化射线检测技术，以其高效率、低成本、环保友好和数字化工作流程等优势，在航空航天、能源电力、轨道交通、特种设备等众多工业领域得到了广泛应用。然而，在CR技术推广初期，由于缺乏统一的技术规范和系统性能评价标准，不同制造商生产的CR系统在成像质量、性能参数上存在差异，给用户选型、技术比对和检测结果互认带来了困难。为此，制定《无损检测基于存储荧光成像板的工业计算机射线照相检测第1部分：系统分类》标准具有重要的现实意义。本报告旨在系统阐述该标准立项的目的意义、规定范围与核心技术内容。报告指出，该标准的制定旨在建立一套科学、统一的CR系统性能分类体系，通过规