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材料分析测试技术试题及答案

一、单项选择题（每题2分，共20分）

1.以下哪种分析技术主要用于测定材料的晶体结构和物相组成？（）

A.扫描电子显微镜（SEM）

B.X射线衍射（XRD）

C.红外光谱（FTIR）

D.差示扫描量热法（DSC）

2.扫描电子显微镜（SEM）成像时，主要利用的电子信号是（）。

A.透射电子

B.背散射电子

C.二次电子

D.俄歇电子

3.透射电子显微镜（TEM）的分辨率主要受限于（）。

A.电子束波长

B.物镜球差

C.样品厚度

D.加速电压

4.红外光谱（FTIR）中，羰基（C=O）的特征吸收峰通常出现在（）。

A.3600-3200cm?1

B.1700cm?1附近

C.1600-1500cm?1

D.1200-1000cm?1

5.差示扫描量热法（DSC）可用于测定材料的（）。

A.表面形貌

B.晶体缺陷密度

C.玻璃化转变温度

D.元素含量

6.原子力显微镜（AFM）的成像模式中，适用于软材料表面形貌观测的是（）。

A.接触模式

B.轻敲模式

C.非接触模式

D.相位成像模式

7.X射线荧光光谱（XRF）主要用于材料的（）分析。

A.分子结