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基于性能和良率双提升的IC测试治具创新设计与实践

一、引言

1.1研究背景

在当今数字化时代，半导体行业作为现代信息技术产业的核心与基石，正以前所未有的速度蓬勃发展。集成电路（IntegratedCircuit，IC）作为半导体技术的关键产物，其应用范围已广泛渗透到人们生活的各个领域，从日常使用的智能手机、平板电脑、笔记本电脑，到汽车电子、工业自动化、航空航天等高端领域，IC都发挥着不可或缺的作用。例如，在智能手机中，各种功能的实现都依赖于IC，像中央处理器（CPU）负责数据处理与运算，图形处理器（GPU）承担图像渲染工作，通信芯片实现数据的无线传输，这些IC协同工作，使得手机能够