TCSAE-汽车用球栅阵列(BGA)封装芯片破坏性物性分析试验方法.pdfVIP

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  • 2026-03-28 发布于上海
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TCSAE-汽车用球栅阵列(BGA)封装芯片破坏性物性分析试验方法.pdf

ICS31.080

CCSL55

团体标准

T/CSAExx-20xx

汽车用球栅阵列(BGA)封装芯片破坏

性物性分析试验方法

Testmethodsfordestructivephysicalpropertyanalysisofballgridarraypackaged

integratedcircuitsforautomotiveapplications

(征求意见稿)

在提交反馈意见时,请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上

DraftingguidelinesforcommercialgradesstandardofChinesemedicinalmaterials

20xx-xx-xx发布刘挺8675

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