CN115152012B 采用用于缺陷减小的隔离结构的互补单元电路及相关制造方法 (高通股份有限公司).docxVIP

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  • 2026-03-30 发布于山西
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CN115152012B 采用用于缺陷减小的隔离结构的互补单元电路及相关制造方法 (高通股份有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN115152012B

(45)授权公告日2025.06.06

(21)申请号202180016226.9

(22)申请日2021.01.13

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115152012A

(43)申请公布日2022.10.04

(30)优先权数据

16/798,9472020.02.24US

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2022.08.22

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/US2021/0131682021.01.13(87)PCT国际申请的公布数据

WO2021

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