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CN115375750B 一种基于图像深度学习的线缆弯曲半径测量方法 （华南理工大学）.docxVIP

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  • 2026-03-29 发布于山西
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CN115375750B 一种基于图像深度学习的线缆弯曲半径测量方法 （华南理工大学）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN115375750B

    (45)授权公告日2025.05.30

    (21)申请号202211031621.7

    (22)申请日2022.08.26

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115375750A

    (43)申请公布日2022.11.22

    (73)专利权人华南理工大学

    地址510640广东省广州市天河区五山路

    华南理工大学

    (72)发明人刘桂雄曹国群周介祺

    (74)专利代理机构北京天奇智新知识产权代理

    有限公司11340

    专利代理师陈新胜

    (51)Int.Cl.

    G06T

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