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基于可制造性设计的测试芯片设计：理论、方法与实践

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代，芯片作为信息技术的核心部件，广泛应用于各个领域，从智能手机、计算机到汽车电子、物联网设备等，其重要性不言而喻。随着科技的飞速发展，芯片技术也在不断演进，经历了从晶体管芯片、集成电路芯片、微处理器芯片、超大规模集成电路芯片到如今系统级芯片（SoC）的发展历程。芯片设计的不断进步，使得电子设备变得越来越小、性能越来越强大，极大地推动了社会的智能化和高效化进程。

然而，随着芯片集成度的不断提高和制造工艺的日益复杂，芯片制造过程中面临着诸多挑战。许多企业在半导体领域投入大量研发资金，期望推出领先的芯片